IEA/AIE 2015 (International Conference on Industrial, Engineering and Other Applications of Applied Intelligent Systems)

A. 참가학회

IEA/AIE 2015 (International Conference on Industrial, Engineering and Other Applications of Applied Intelligent Systems)
The 28th International Conference on Industrial, Engineering & Other Applications of Applied Intelligent Systems

B. 장소 및 기간

Jun 10-12, 2015, COEX, Seoul, Korea

C. 참가인원 및 발표 주제

조수곤, Summarization of Documents by Finding Key Sentences Based on Social Network Analysis
박진수, Prediction of Package Chip Quality using Fail Bit Count Data of the Probe Test

이 중 박진수 학생은 연구 결과의 우수성을 인정받아 Best Paper 상을 받았습니다.
연구 구성원들의 연이은 수상소식에 축하드리며, 앞으로도 김성범 교수님의 지도 하에 열심히 연구하는 DMQM 연구원이 되겠습니다.

감사합니다.