2015 International Symposium on Semiconductor Manufacturing Intelligence



1. 장소 및 기간

   October 16-18 at KAIST in Deajeon, South Korea


2. 참가인원

   박진수, 남완식, 이상민 연구원


3. 사진첨부

   a. 첫번째 사진은 각 연구원의 발표사진입니다.


1. 남완식 연구원, Wafer Yield Prediction based on Virtual Metrology-generated Variables

2.
박진수 연구원, A Prediction of Semiconductor Chip Quality by Solving Data Imbalance Problem

3. 이상민 연구원, A nonparametric multivariate monitoring for automated material handling system in a wafer fab









   b. 두번째 사진은 안개낀 캠퍼스 정경과 함께 오리를 촬영한 사진입니다.