Smart Manufacturing
공정이상 진단에 대한 다변량 분석의 자사 유효성을 검토 및 최적의 다변량 분석 LOGIC 개발
- With LG 디스플레이
- 2011-06-15 ~ 2011-12-31
최근 제조환경에서는 기술의 발달로 인해 공정에서 수많은 변수들이 실시간으로 측정되고 있으며 설비변수들은 복잡하게 연계되어 있다. 이러한 환경에서 기존의 공정관리기법을 통해 공정을 모니터링하는 것은 생산성의 비효율을 초래할 뿐만 아니라 공정의 이상을 정확하게 진단할 수 없다. 이러한 문제를 해결하고자 본 연구팀은 LG 디스플레이와 산학 프로젝트를 통해 붓스트랩 기법을 적용한 다변량 기반의 공정 모니터링기법을 제안하였다. 제안하는 공정관리 기법은 데이터의 분포에 대한 사전지식 없이도 활용이 가능하며 정밀한 공정 모니터링 능력을 보였다. 본 프로젝트를 통해 LG디스플레이는 품질향상과 노동력 절감의 효과를 거둘 수 있었고 2011년 대한산업공학회 추계학술대회에서 산학프로젝트 경진대회에서 최우수상을 수상하였다.