대한산업공학회 2012 추계학술 대회에서 우리 연구실 주태우 학생이 발표한 논문 "다중 정상 하에서 단일 클래스 분류기법을 이용한 이상치 탐지: TFT-LCD 공정사례"가 "확률/통계" 분야에서 최우수논문상을 수상했습니다. 축하합니다.