지난 봄 부산에서 개최된 대한산업공학회에 이어 추계 학술대회에 참가하였다. 특히, 이번 학회는 본인이 직접 석사논문경진대회에 참가하게 되어, 춘계대회때와는 느낌이 또 달랐다. 총 8명의 참가자가 4개 분야에서 발표하였는데, 산업공학의 다양한 이슈에 대하여 알게 되는 계기가 되었다. 평소 자동차에 관심이 많아서 3번째 발표인 인간공학적 승용차 버튼 설계를 위한 다양한 버튼 각도 및 조작 깊이 평가가 흥미로웠다. 연구자는 20대의 실험대상자를 상대로 버튼의 각도와 조작 깊이에 대한 실험을 하였는데, 버튼의 각도가 조작 깊이보다 만족도에 영향을 더 주는 것으로 나타났다. 다만, 실험 대상이 20대 남자로 한정되어 키, 성별, 연령대를 세분화하여 연구를 해보면 흥미로운 결과가 나올 것 같다.

<발표 내용>
이번 학회의 석사논문경진대회에서 발표주제는 "프로브 검사 결점 수 데이터를 이용한 패키지 칩 품질 예측 방법론"이었다. 프로브 검사 결점 수 데이터는 최초의 칩 데이터로써, 최종 칩 품질을 예측하는데 중요한 데이터이다. 특히 품질 데이터는 데이터 불균형을 가지고 있기 때문에 이를 해결하여 소수 범주인 품질 이상 물량의 품질 정확도를 높이는데에 초점을 맞추었다. 이를 이용해, 패키지 칩 품질 예측 프로세스를 체계적으로 정립하였다는데 의의가 있다.

<질문 내용과 답변>
1. SMOTE에서 사용한 KNN에서 근접이웃을 정하는 방법으로 유클리디안 거리를 사용하였는데, 다른 거리를 사용해보지는 않았는지?
기본적으로 본 연구는 칩 품질 예측 프로세스를 제시한 것이기 때문에 다른 거리를 사용해보지는 않았다. 하지만, 데이터 불균형 문제를 해결하는 것은 중요하기 때문에, 추후 연구 과제로 고려해볼 필요는 있을 것 같다.

2. 결점 수에 대한 이해가 잘되지 않는데?
프로브 검사의 결점 수는 기존 다른 제조업에서의 결점과는 특징이 다르다. 이 결점 수들을 이용하여 리던던시로 레이저 리페어를 하여 최종적으로 결점은 없어지지만, 결점 수에 따른 해당 칩의 불량 특징을 알 수 있다는데에 의미가 있다. 추후 발표시에는 참조 목록으로 반도체에 대한 기본적인 내용을 장표로 만들어, 질문이 나올 시에 이용하는 것도 고려해보겠다.

3. MCP의 불량과 관계가 있는지?
MCP는 품질의 중요성에 대해 설명하기 위해서 언급할 것일뿐, MCP의 불량과는 직접적인 관계가 없다. MCP에 사용되는 DRAM의 품질이 더욱 중요하다는 것으로 이해해주시면 되겠다.

4. SMOTE를 사용하였는데, 테스팅 데이터에 대해서도 SMOTE를 적용한 것인지?
SMOTE는 트레이닝 데이터에서 대해서만 적용하였고, 테스팅 데이터는 실제 데이터로 하였다. SMOTE로 테스팅도 불균형을 해결하면 결과는 왜곡되어 더욱 높게 나올 것이다.

질문에 대한 답변은 대체적으로 잘된 것 같지만, 답변을 하는 태도가 좀 아쉬웠다. 다음부터는 연구실의 다른 발표자들이 하는 것을 본받아 질문에 대한 감사 표시를 하도록 하겠다.